L'objectif de microscope TSI est utilisé avec les systèmes LDV et PDPA de TSI pour permettre d'examiner facilement la configuration du passage des faisceaux. Il dispose d'un grand diaphragme permettant un alignement rapide et peut supporter sans brûler même la très forte puissance du rayon laser Ar ion de TSI (sonde extérieure uniquement). Il est fourni avec des fixations et une structure réglables et peut être attaché solidement à la table.